Журнал "Компьютерра" N743-744 - Страница 10

Изменить размер шрифта:

Суть нового метода, позволившего преодолеть досадные ограничения, вкратце такова. В материале возбуждают сильную звуковую волну с частотой несколько терагерц. Ее длина составляет нескольких межатомных расстояний, а период сопоставим с характерным атомным временем в решетке, что и определяет высокое разрешение метода. Возбудить колебания столь высокой частоты непросто, но они спонтанно возникают на фронте ударных волн или могут быть получены с помощью лазерных импульсов длительностью меньше пикосекунды. Однако возбудить упругие колебания — только полдела. Их еще нужно как-то регистрировать, а сделать это до сих пор было просто-напросто нечем.

Расчеты методом молекулярной динамики показали, что на границе раздела двух материалов с различными пьезоэлектрическими свойствами (а ими в той или иной мере обладают многие вещества) терагерцовые акустические колебания, за счет возбуждения поверхностных поляризационных токов, будут эффективно и когерентно преобразовываться в электромагнитные волны. А уже электромагнитные волны этой частоты нетрудно измерить вблизи материала известными методами.

Эксперименты с гетероструктурой из тонких нанопленок нитридов алюминия и галлия, использующихся при изготовлении светодиодов, блестяще подтвердили расчеты. И теперь есть надежда, что новый метод позволит детально исследовать структуру многих электронных устройств, состоящих из набора тонких пленок (полевых транзисторов, светодиодов, солнечных элементов и др.). Прекрасное пространственное разрешение позволит использовать метод при визуализации и контроле перспективных устройств из квантовых точек и других наноструктур.

Однако прежде чем терагерцовые волны станут привычным инструментом технологов, ученым еще предстоит покорпеть в лабораториях. ГА

Напрягает

Новый метод голографической интерферометрии для измерения механических напряжений в электронных устройствах предложили ученые французского Национального центра научных исследований. Метод впервые позволил получить двухмерную картину распределения напряжений на сравнительно большом срезе чипа с разрешением всего несколько нанометров.

Обычно инженеры стараются избегать механических напряжений и деформаций, поскольку они снижают надежность электронных устройств. Однако в последние годы "растянутый" кремний стал привычным компонентом компьютерных чипов. В таком кремнии заметно повышается подвижность носителей заряда, а значит, и скорость переключения транзисторов. По-видимому, механические напряжения будут играть важную роль и в основанной на нанотрубках и нановолокнах электронике будущего.

Сегодня растянутые участки кремния в чипах создают разными способами, которые нередко приводят к сложным двух- и трехмерным механическим деформациям. И без их скрупулезного измерения разработка новых устройств уже невозможна. Однако все известные методы, основанные на Рамановской спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей и пр., либо обладают низким разрешением, либо могут покрыть лишь небольшой участок чипа.

Французские ученые предложили скомбинировать два метода: построения муара и электронной голографии. В первом из них когерентный электронный пучок просвечивает пару расположенных друг над другом образцов с одинаковой ориентацией решетки, один из которых — ненапряженный кристалл, а второй — образец, чьи деформации надо исследовать.

Журнал "Компьютерра" N743-744 - pic_15.jpg

Дифрагированные электроны от двух кристаллов интерферируют друг с другом и дают картину деформаций. Но этот метод обладает низким разрешением и позволяет просвечивать только тонкие образцы, которые, учитывая наномасштабы, не так-то просто расположить друг над другом с необходимой точностью. В электронной голографии пучок разделяется на два, один из них проходит сквозь образец, а затем объединяется и интерферирует с опорным пучком с помощью электронной бипризмы. Чтобы объединить оба метода, ученые поместили на пути опорного пучка ненапряженный кристалл и сразу получили картину деформаций с пространственным разрешением лучше четырех нанометров на области размером до одного микрона. Это позволяет исследовать массив сразу из нескольких полевых транзисторов.

Экспериментаторы уверены, что их метод быстро обретет популярность у технологов и разработчиков компьютерных чипов.ГА

Новости подготовили

Галактион Андреев

Александр Бумагин

Егор Васильев

Татьяна Василькова

Владимир Головинов

Евгений Золотов

Денис Коновальчик

Игорь Куксов

Павел Протасов

Дмитрий Шабанов

Константин Шиян

Оригинальный текст книги читать онлайн бесплатно в онлайн-библиотеке Knigger.com